인텍플러스, 반도체 소자 비전검사 대만특허 취득
입력 : 2012-06-14 11:13:12 수정 : 2012-06-14 11:13:51
[뉴스토마토 임애신기자] 인텍플러스(064290)는 메모리 모듈 등 반도체 소자의 자동 광학 검사 시스템의 장비 소형화와 검사 속도를 개선할 수 있는 반도체 소자 비전 검사 시스템에 관한 특허를 대만에서 취득했다고 14일 공시했다.

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